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HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機
IC卡動態(tài)彎扭試驗機技 術 參 數(shù) | 機配 置 |
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。 外形尺寸:L670 X W380 X H220 儀器重量:70kg 電 壓:AC220V±5% 功 率:35W 測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz 測試周期:1~9999次 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm 正反向各15°,總扭曲角度30° 長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊zui小位移量為2mm±0.50mm, 短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊zui小位移量為1mm±0.50mm, 夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。
儀器加罩前的尺寸是: 長:74.5cm,寬:38cm 高:30cm 儀器加罩后的尺寸是: 長:78cm,寬:42.5cm 高:30cm | 1、 主機一臺; 2、配置: 1)常用調試工具一套: 2)中國臺灣STK交流調速電機系統(tǒng)一套; 3)中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套; 4)高精度光電計數(shù)器一套 4)中國臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套; 3、產品用途: 用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。 |