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粉末抗壓強度測試機執(zhí)行的標準是什么?

點擊次數(shù):324 更新時間:2024-10-28

粉末抗壓強度測試機執(zhí)行的標準是GB/T 43091 2023。

粉末抗壓強度測試機主要用于制備的小樣品的力學性能測試,特別是材料和生物領(lǐng)域,幾毫米甚至1毫米以下的樣品非常常見,另外很多樣品很軟,測試的力度只需要幾十微牛。微小力值測試儀主要對材料進行拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗,可以精密求取抗拉力、抗拉強度、斷裂強度、初始模量、斷裂伸長率、應(yīng)力應(yīng)變、屈服強度的測定,以及些產(chǎn)品的特殊試驗。三閉環(huán)測控可以實現(xiàn)反復循環(huán)和低周疲勞測試等。試驗過程中,微機實時采集力值和變形信號,軟件顯示“力值—位移"曲線,試驗結(jié)束后,自動計算,保存參數(shù),并可打印出實驗報告。

粉末顆粒壓潰力試驗機用于測試粒徑為 5 μm~50μm 的球形 、類球形或不規(guī)則形粉末抗壓強度的測定。

粉末顆粒隨壓力的增加發(fā)生變形直至被壓潰 。記錄試驗力與壓縮位移的關(guān)系曲線 , 粉末壓潰時的試驗力為顆粒的壓潰力 Fyk 。根據(jù)粉末顆粒的粒徑d 計算出顆粒的 受力面積 ,進而計算出粉末顆??箟簭姸?。

微小壓縮試驗機 ,配備 10倍及以上倍數(shù)的目鏡和物鏡 ,試驗力加載精度優(yōu)于試驗力的 1% ,位移精 度優(yōu)于 0. 01d。

粉末顆粒壓潰力試驗機技術(shù)參數(shù):

1. 產(chǎn)品規(guī)格: HY-0230

2. 精度等級: 0.5級

3. 微力負荷: 0.5N 1N 5N 10N 20N 50N 100N (任選或多選)

4. 有效測力范圍:0.1/100-99.999%;

5. 試驗力分辨率,負荷±500000碼;內(nèi)外不分檔,且全程分辨率不變。

6. 位移分辨率:0.0001mm

7. 變形分辨率:0.0001mm

8. 有效試驗寬度:120mm

9. 有效試驗空間:300mm

10. 試驗速度::0.001~300mm/min(任意調(diào))

11. 速度精度:示值的±0.5%以內(nèi);

12.位移測量精度:示值的±0.5%以內(nèi);

13.變形測量精度:示值的±0.5%以內(nèi);

14.應(yīng)力控速率范圍: 0.005%~6%FS/S

15.應(yīng)力控速率精度: 速率<0.05%FS/S時,為設(shè)定值的±1%以內(nèi);速率≥0.05%FS/S時,為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi);

16.應(yīng)變控速率范圍: 0.002%~6%FS/S

17.應(yīng)變控速率精度: 速率<0.05%FS/S時,為設(shè)定值的±2%以內(nèi);速率≥0.05%FS/S時,為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi);

18. 恒力/位移/變形測量范圍:0.5%~99.999%FS

19.恒力/位移/變形測量精度:設(shè)定值<10%FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi); 設(shè)定值≥10%FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi);

20.試臺升降裝置:快/慢兩種速度控制,可點動;

21.試臺安全裝置:電子限位保護

22.試臺返回:手動可以高速度返回試驗初始位置,自動可在試驗結(jié)束后自動返回;

23.試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負荷自動停車

24.超載保護:超過大負荷10%時自動保護;

25. 自動診斷功能,定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進行過載、過壓、過流、超負荷等檢查,出現(xiàn)異常情況立即進行保護

26.電源功率: 400W

27.主機重量: 40kg

28. 電源電壓: 220V(單相)

29. 主機尺寸:430*315*855mm

無字小圖片5001117.png

抗壓強度的測試按以下步驟進行 :

a) 按照 GB/T 19077的規(guī)定測定粉末的粒度分布 ,確定粉末的中位粒徑(D50) ;

b) 使用柔軟的無塵布或潔凈紙對試驗平臺及壓頭進行清理 ;

c) 開啟設(shè)備系統(tǒng) ,運行 30min;

d) 將待測粉末均勻鋪散在試驗平臺上 ;

e) 將試驗平臺轉(zhuǎn)移至微小壓縮試驗機物鏡下并固定 ,根據(jù)樣品特性設(shè)置合適的加載壓力和加載 速率 ;

f) 調(diào)整試驗平 臺 位 置 , 觀 察 平 面 壓 頭 視 區(qū) 內(nèi) 的 顆 粒 , 選 擇 有 代 表 性 目 標 粒 徑 (與 D50 相 近) 的 顆粒 ;

g) 調(diào)整目鏡或物鏡倍數(shù) ,使單一個顆粒位于平面壓頭視區(qū)中心 ,微調(diào)試驗平臺高度 ,使目標顆 粒邊緣清晰 ,測量顆粒粒徑 ;

h) 再次微調(diào)試驗平臺高度 ,使目標顆粒移動至頂點并聚焦 ,移動試驗平臺至平面壓頭下 ,測試并 獲得試驗力與壓縮位移曲線 ;

i) 測試顆粒數(shù)不少于 5個 ,也可按照實際需求選擇測試顆粒數(shù) 。

試驗條件:溫度為 25 ℃±3℃ ,相對濕度不大于 60% 。試驗過程應(yīng)無振動和對流空氣的影響 。



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